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Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

Forschungsprofil

Mess- und Prüftechnik

3D-Rekonstruktionsverfahren für die industrielle Mess- und Prüftechnik

Ein wichtiges Problem der industriellen Mess- und Prüftechnik ist die 3D-Rekonstruktion von Bauteilen. Hierzu werden triangulationsbasierte Verfahren (Stereobildanalyse, Streifenlichtprojektion) und intensitätsbasierte Ansätze in Kombination untersucht. Diese Vorgehensweise ist für glänzende und insbesondere metallische Oberflächen geeignet, bei denen eine lückenlose 3D-Rekonstruktion beispielsweise mit klassischer Streifenlichtprojektion erfahrungsgemäß schwierig ist. Im Rahmen der laufenden Forschungsarbeiten werden diese Methoden hinsichtlich einer simultan mit der 3D-Rekonstruktion erfolgenden Ermittlung der das Reflexionsverhalten der Oberfläche charakterisierenden Parameter allein aus dem verwendeten Datenmaterial weiterentwickelt.

Musterklassifikation

Verfahren der Musterklassifikation

Ein wichtiges Forschungsgebiet im Bereich der Musterklassifikation sind teilüberwachte Klassifikationsverfahren, die die Erkennungsleistung eines bestehenden Klassifikationssystems hinsichtlich neuer Musterklassen oder neuer Ausprägungen bekannter Musterklassen selbsttätig erweitern. Hierzu werden geeignete Maße identifiziert, die die Zuverlässigkeit der Ausgabe des Klassifikators für neue Lernbeispiele bewerten und anhanddessen darüber entscheiden, ob ein neues Lernbeispiel mit seinem vom Klassifikator automatisch generierten Klassenlabel in den Lerndatensatz übernommen wird oder nicht. Unterstützend können in diesem Kontext auch synthetische Lernbeispiele eingesetzt werden. Anwendungen von selbstlernenden Klassifikationsverfahren ergeben sich immer dann, wenn sie unter komplexen und zeitlich veränderlichen Umgebungsbedingungen eingesetzt werden sollen.

Methoden der Fernerkundung

Methoden der 3D-Rekonstruktion und Spektraldatenanalyse für die Fernerkundung

Die Kombination aus mittels Standardmethoden der Fernerkundung (Stereo-Bildverarbeitung, Laseraltimetrie) erhaltenen topographischen Daten und Reflektanzdaten ermöglicht unter Verwendung modifizierter Shape-from-Shading- bzw. photometrischer Stereo-Verfahren die Generierung von digitalen Elevationsmodellen (DEMs) hoher lateraler Auflösung, die derjenigen der zugrundeliegenden Bilddaten nahekommt. Diese hochaufgelösten DEMs werden auch für die Kalibrierung bzw. Normalisierung von Multi- und Hyperspektralbilddaten benötigt, die Aufschluss über die Mineral-Zusammensetzung der Oberfläche geben. Insbesondere für den Mond sind durch die Raumsondenmissionen der vergangenen Jahre eine Vielzahl neuer Datensätze hoher Qualität verfügbar. Kombinierte Analysen der so ermittelten spektralen Parameter der Oberfläche und der mittels Gamma- und Röntgenspektroskopie erhaltenen, örtlich jedoch gering aufgelösten Häufigkeiten bestimmter chemischer Elemente ermöglichen eine detaillierte topographische und mineralogische Kartierung der untersuchten Oberflächenregionen.

Der DEM-Datensatz des Lunar Orbiter Laser Altimeter (LOLA) (Smith et al., Space Sci. Rev. 150, 2010) ist unter http://pds-geosciences.wustl.edu/missions/lro/lola.htm verfügbar.

Das GLD100-Elevationsmodell (Scholten et al., JGR 117, 2012) ist unter http://wms.lroc.asu.edu/lroc/view_rdr/WAC_GLD100 verfügbar.

Der hyperspektrale Bilddatensatz des Moon Mineralogy Mapper (M3) (Pieters et al., Current Science 96, 2009) ist unter http://pds-imaging.jpl.nasa.gov/volumes/m3.html verfügbar.